紅外碳硫分析儀可以快速分析鋼、鐵、銅、合金、碳化合物、礦石、水泥、陶瓷、玻璃等固體材料中的碳和硫。但是在日常的使用中，紅外碳硫分析儀檢測(cè)系統(tǒng)如果出現(xiàn)問(wèn)題，許多用戶就無(wú)法解決，創(chuàng)想儀器多年來(lái)對(duì)高頻紅外碳硫分析儀經(jīng)過(guò)研究和分析，有了非常多的寶貴經(jīng)驗(yàn)。
高頻紅外碳硫分析儀檢測(cè)系統(tǒng)受哪些方面影響？
1.工作電源工作電源是保證檢測(cè)系統(tǒng)正常工作的首要條件，檢測(cè)系統(tǒng)工作電源有四種，分別是±15V、5．5V、24V、5V，如果這部分電路工作狀況及輸出值不正常，那么就要看看是否是以下幾個(gè)問(wèn)題。
(1)部分器件老化會(huì)導(dǎo)致輸出值不穩(wěn)定，紋波大。正常情況下電源輸出的波動(dòng)范圍應(yīng)在±10％內(nèi)。
(2)部分器件損壞無(wú)輸出或輸出波形不對(duì)。
2.紅外光源
紅外光源發(fā)射的紅外輻射與光輻射功率成正比。光輻射功率發(fā)生變化，則信號(hào)輸出大小也會(huì)發(fā)生變化，那么檢測(cè)器基線也會(huì)發(fā)生變化，也就是說(shuō)紅外輻射的大小，檢測(cè)器基線會(huì)反映出來(lái)。
引起紅外光源輻射信號(hào)變化的原因有以下幾種：
(1)光源的老化程度會(huì)導(dǎo)致光輻射的強(qiáng)弱，信號(hào)輸出低，碳和硫檢測(cè)器的基線輸出值也會(huì)逐漸降低，如果低于標(biāo)準(zhǔn)的范圍，儀器會(huì)報(bào)警。
(2)光源加熱絲斷裂或脫焊，無(wú)信號(hào)輸出。可以測(cè)量下光源加熱絲電阻值是否正確(正確值一般為5Q左右)。
(3)光源加熱絲虛焊及電源插頭氧化導(dǎo)致接觸不良。
3.切光馬達(dá)
馬達(dá)工作是一個(gè)非常關(guān)鍵的步驟。切光馬達(dá)是將光信號(hào)調(diào)制成具有一定頻率的信號(hào)送入檢測(cè)器，把紅外光信號(hào)切光信號(hào)，可以保障信號(hào)經(jīng)電路放大后的穩(wěn)定性。
(1)切光馬達(dá)無(wú)法工作，或許是工作電源故障、切光馬達(dá)轉(zhuǎn)切光卡住。
(2)由于馬達(dá)長(zhǎng)期轉(zhuǎn)動(dòng)會(huì)有磨損，軸套間隙大，馬達(dá)葉片轉(zhuǎn)動(dòng)不穩(wěn)定，甚至葉片碰到檢測(cè)池池壁受阻、卡住。
(3)切光馬達(dá)工作調(diào)制頻率不在正常范圍內(nèi)，引起通過(guò)光孔的光忽大忽小，檢測(cè)器的接收信號(hào)波動(dòng)可能會(huì)為零。
4.紅外線檢測(cè)器
紅外線檢測(cè)器是氣體分析儀的關(guān)鍵部件，正常情況下應(yīng)保證環(huán)境溫度穩(wěn)定，避免干擾信號(hào)。以下幾個(gè)情況是比較容易出現(xiàn)：
(1)器件損壞無(wú)輸出信號(hào)。
(2)器件老化靈敏度低，輸出信號(hào)噪聲大。
(3)器件焊點(diǎn)氧化、虛焊接觸不良，輸出信號(hào)不穩(wěn)定。
5.前置放大器
前置放大器將檢測(cè)器輸出的微弱信號(hào)進(jìn)行放大、濾波、直流放大。只要前置放大器的各個(gè)部位發(fā)生微小變化都將引起放大器的變化。
(1)微信號(hào)放大器性能下降。檢查時(shí)應(yīng)首先檢查下濾波電容，接地是否良好。
(2)調(diào)零電位器、增益調(diào)節(jié)電位器接觸不良。我們?cè)谑褂靡欢螘r(shí)間后要把電位器左右旋轉(zhuǎn)幾下，確保接觸良好。
(3)四運(yùn)放放大器放大倍數(shù)降低，造成后續(xù)分析結(jié)果偏低。
6.A／D轉(zhuǎn)換板
電壓信號(hào)通過(guò)16轉(zhuǎn)1芯片進(jìn)行信號(hào)采集，再通過(guò)A／D芯片轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，送人計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，這個(gè)過(guò)程干擾信號(hào)較容易發(fā)生，會(huì)影響到系統(tǒng)監(jiān)視窗口觀察工作條件、樣品檢測(cè)積分過(guò)程及計(jì)算。
(1)A／D轉(zhuǎn)換板的器件老化質(zhì)量下降，干擾信號(hào)會(huì)增多，數(shù)字信號(hào)紊亂。
(2)儀器接地不良，外界干擾信號(hào)，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)遺漏。
(3)A／D轉(zhuǎn)換板與總線插槽接觸不好，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)丟失。
高頻紅外碳硫分析儀檢測(cè)系統(tǒng)出現(xiàn)問(wèn)題一般是上述這些問(wèn)題，通過(guò)了解這些問(wèn)題，我們可以相對(duì)輕松的解決及提高設(shè)備的利用率。