X熒光光譜儀在測(cè)試過(guò)程中也會(huì)有很多干擾譜線,那么我們?cè)撊绾蜗兀拷裉旌蛣?chuàng)想小編一起來(lái)了解下在X熒光光譜儀中,干擾譜線來(lái)源及如何消除吧!
X射線管:干擾線可能來(lái)自靶材本身,包括靶元素及有關(guān)雜質(zhì)的發(fā)射線。此外,長(zhǎng)期使用中,燈絲及其他有關(guān)構(gòu)件的升華噴濺或其他原因,可能導(dǎo)致靶面或管窗的玷污,從而產(chǎn)生干擾線。同時(shí),X射線管構(gòu)件受激發(fā)或陰極電子束的不適當(dāng)聚焦,也可能產(chǎn)生干擾線。
樣品:樣品中其他元素發(fā)射的干擾線,尤其是強(qiáng)度較大的圖表線,可能會(huì)對(duì)分析線或參比線造成干擾。
為了消除這些干擾譜線,操作人員可以采取以下策略:
激發(fā)源:針對(duì)X射線管,可以更換適當(dāng)靶材的X射線管,選擇能夠抑制干擾譜線出現(xiàn)的管壓。同時(shí),可以將樣品屏蔽到較小的區(qū)域,以減少原級(jí)標(biāo)識(shí)光譜的散射。如果這些方法還不能有效消除干擾,可以使用濾光片來(lái)消除干擾線。
創(chuàng)想臺(tái)式X熒光光譜儀
分析晶體與光路:對(duì)于X射線分光計(jì),可以選擇適當(dāng)?shù)姆治鼍w,以消除存在于樣品中干擾元素的偶數(shù)級(jí)反射線對(duì)分析線或參比線的干擾。此外,選擇分辨率高的分析晶體和準(zhǔn)直器,也可以消除或減輕某些譜線的干擾。
制備校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)曲線:針對(duì)元素間干擾或基體效應(yīng),可以通過(guò)制備一系列校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)彌補(bǔ)這些影響。這些曲線需要覆蓋待分析的濃度范圍,并需要精心設(shè)計(jì)的參考資料。
請(qǐng)注意,以上只是消除干擾譜線的一些基本方法,具體的消除策略需要根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行調(diào)整和優(yōu)化。在進(jìn)行X熒光光譜分析時(shí),建議與專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行密切合作,以確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。